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HP-C-VE 光學測頭(圖1)

.HP-OW光學測頭:應用白光共聚焦技術,可針對各種表面工件進行高精度的非接觸測量。
HP-OW測量范圍為幾毫米,同時實現納米級的分辨率。±30°的大測量角度,使其適用于更多應用,從微小特征到大面積測量。通過應用HR-R自動更換架,可實現與其它不同測頭的自動更換。
HP-OW測頭有HP-OW-2.14和HP-OW-2.61兩種型號,可根據測量應用選擇不同的測量范圍、工作距離等。